OmniScan X3超聲波相控陣探傷儀檢測(cè)奧氏體不銹鋼試塊
更新時(shí)間:2021-08-27 點(diǎn)擊次數(shù):1793次
使用奧林巴斯OmniScan X3超聲波相控陣探傷儀檢測(cè)客戶(hù)帶來(lái)的奧氏體不銹鋼試塊,效果明顯,缺陷清晰可見(jiàn)。
典型的奧氏體不銹鋼檢測(cè)具有以下難點(diǎn):
1.晶粒粗大,導(dǎo)致聲波散射嚴(yán)重,穿透能力差;
2.晶粒的各向異性導(dǎo)致聲波產(chǎn)生折射,缺陷定位不準(zhǔn)確。
我們采用雙線陣探頭+縱波斜楔塊的方案,可以有效的改善這些問(wèn)題,在這個(gè)演示中,我們同時(shí)采用了凹曲面楔塊,來(lái)增加凸面(Φ120mm)的耦合效果。
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