萬睿視VAREX射線平板探測(cè)器的成像系統(tǒng)說明
更新時(shí)間:2023-03-13 點(diǎn)擊次數(shù):496次
萬睿視VAREX射線平板探測(cè)器在工業(yè)和安全應(yīng)用中具有的圖像質(zhì)量,Varex Imaging基于非晶硅的探測(cè)器是工業(yè)和安全應(yīng)用中射線照相的基準(zhǔn)??山档蜕渚€劑量,幫助正確診斷。應(yīng)用技術(shù)穩(wěn)定性得到大幅提高,并且通過電路技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)低噪聲、高畫質(zhì)的表現(xiàn)。
萬睿視VAREX射線平板探測(cè)器的產(chǎn)品特點(diǎn)如下:
1.元器件和傳感器全屏蔽保護(hù),因此不會(huì)因輻照而老化;
2.穩(wěn)定的圖像質(zhì)量和超長(zhǎng)的使用壽命;
3.高動(dòng)態(tài)范圍;
4.無像素缺陷,因?yàn)槊總€(gè)像素點(diǎn)都是由數(shù)個(gè)獨(dú)立的像素點(diǎn)組成的;
5.幾乎可忽略的圖像延遲(小于0.1%);
6.圖像讀取在被測(cè)物體運(yùn)動(dòng)時(shí)進(jìn)行;
7.模塊化設(shè)計(jì),是理想的無損檢測(cè)探測(cè)器。
萬睿視VAREX射線平板探測(cè)器的成像檢測(cè)系統(tǒng)由X射線源、被檢測(cè)工件、平板探測(cè)器成像系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)系統(tǒng)等組成。其中的X射線源是用于產(chǎn)生一定能量的X射線穿透工件,X射線在工件內(nèi)部被吸收而產(chǎn)生強(qiáng)度上的差異,從而傳遞工件內(nèi)部的缺陷、形狀等信息到達(dá)平板探測(cè)器。
X射線源焦點(diǎn)尺寸越小,則得到的圖像清晰度就越高。為得到質(zhì)量較高的圖像,在X射線檢測(cè)中應(yīng)盡量選用焦點(diǎn)尺寸較小的X射線源,但在實(shí)際的工業(yè)探傷中,由于工件的厚度較大,就要求X射線有一定的功率以穿透被測(cè)工件,因而目前工業(yè)所用的X射線源焦點(diǎn)直徑通常在1.0mm以上。