更新時(shí)間:2023-06-29
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生產(chǎn)地址:美國
廠商性質(zhì):代理商
品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,能源,冶金,航天,汽車 |
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為了獲得用于非破壞性測(cè)試成像的高分辨率的圖像質(zhì)量,請(qǐng)升級(jí)到1207N Varex Imaging CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)X射線平板探測(cè)器。
1207N CMOS平板探測(cè)器是具有出色靈敏度的高速,低噪聲X射線探測(cè)器。 該探測(cè)器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術(shù),并提供了一系列閃爍器和接口選項(xiàng)。
CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益,這使其非常適合實(shí)時(shí)和計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)成像以及具有高動(dòng)態(tài)范圍的靜態(tài)成像。
1207N平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括:
為了獲得用于非破壞性測(cè)試成像的高分辨率的圖像質(zhì)量,請(qǐng)升級(jí)到1512N Varex Imaging CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)平板探測(cè)器。
1512N CMOS平板探測(cè)器是具有出色靈敏度的高速,低噪聲X射線探測(cè)器。 該探測(cè)器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術(shù),并提供了一系列閃爍器和接口選項(xiàng)。
CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益,這使其非常適合實(shí)時(shí)和計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)成像以及具有高動(dòng)態(tài)范圍的靜態(tài)成像。
1512N平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括:
CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益,這使其非常適合實(shí)時(shí)和計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)成像以及具有高動(dòng)態(tài)范圍的靜態(tài)成像。
2315N平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括: